硅片电池串测试仪

核心定义与适用场景

• 核心定义：以 AM1.5G 光谱模拟光照，配合电子负载完成 I‑V 扫描，同步采集温度与辐照并做 STC 修正；常搭配 EL 暗室成像，实现电性能 + 缺陷的一站式检测，避免不良串流入封装环节。

• 典型场景：串焊后在线检测、分档配对、层压前复检、返修验证；适配 166/182/210 等主流尺寸，支持 2–20 片串联的电池串。

核心测量参数与系统构成

• 关键参数：Voc、Isc、Pmax、Vmp、Imp、FF、η、Rs、Rsh；同步记录辐照、电池温度并做 STC 修正。

• 系统构成：AAA 级太阳模拟器（光谱、均匀度、稳定度达标）、精密电子负载、四线制测量、温度 / 辐照传感器、EL 暗室与高灵敏相机、工控机与数据管理软件。

主流技术参数（量产线参考）

工作流程（在线产线）

1. 上料定位：电池串输送至检测工位，夹具自动夹紧电极。

2. 光照与扫描：太阳模拟器闪光，电子负载完成 I‑V 扫描，同步采集辐照与温度。

3. 数据处理：计算参数并做 STC 修正，生成 I‑V 曲线与报表。

4. EL 检测：暗室下施加正向偏压，相机成像并识别缺陷。

5. 分档与分流：合格串进入下道，不良串标记返修或报废。

核心技术与优势

• 光源与测量：AAA 级光源确保数据一致性，四线制测量与高精度 ADC 提升精度。

• 缺陷检测：EL 成像可定位细微缺陷，减少后期热斑与功率衰减风险。

• 效率与追溯：自动化节拍高，数据可追溯、可分档，降低组件失配损失。

• 兼容性：适配 PERC、TOPCon、HJT 等主流技术路线硅片电池串。

选型与使用要点

• 选型优先：光源等级、电压 / 电流量程、功率精度、EL 分辨率、节拍与线体接口。

• 校准周期：光源与传感器定期校准，每年至少一次专业校准，确保数据可靠。

• 现场注意：保持夹具清洁、接触良好；暗室密封性达标；避免强光干扰 EL 成像。

• 数据管理：统一分档阈值，建立缺陷库与返修流程，实现闭环质控。

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