DPLS4000数字化正电子湮没寿命谱仪

DPLS4000 是一款基于高速数字采集卡和快γ探测器的正电子湮没寿命测量一体机设备。首次在商业化正电子湮没寿命谱仪中实现了免调试、自稳定的功能。

正电子湮没测量技术可以探测从材料表面到几百微米得微观结构，并不局限在细部，而是获取整个探测区的全局整体信息。

正电子对材料中的缺陷和孔洞非常敏感，有能力探知低至百万分之一浓度的缺陷，从单原子缺陷（0.1nm）到微米级孔洞均可表征。

正电子湮没测量对于材料无任何损伤，测试结构简单，可以进行材料在高温/低温环境、光照环境、磁性环境、气氛环境、压力环境的条件下进行原位测量。